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产品详情
  • image of 专业逻辑>SNJ54BCT8374AFK
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型号 SNJ54BCT8374AFK
产品分类 专业逻辑
制造商 Texas Instruments
描述 SCAN TEST DEVIC
封装 -
包装 管子
RoHS 状态 1
获取报价信息
image of 专业逻辑>18186499
18186499
型号
18186499
产品分类
专业逻辑
制造商
Texas Instruments
描述
SCAN TEST DEVIC
封装
-
包装
管子
lang_roHSStatusStatus
1
产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包裹管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)
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服务时间: 周一至周六9:00-18:00
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